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质量分析

1. 模块概述

1.1 模块简介

质量分析模块是LMES制造执行系统的核心质量管理插件,以SPC统计过程控制为基础,结合多种质量分析方法对生产过程进行全面监控和分析。该模块通过科学的统计方法监控生产过程的稳定性和能力,帮助企业实现从"事后检验"到"事前预防"的质量管理转型。

  • 组件标识: SPCAnalysis
  • 组件名称: 质量分析
  • 组件分类: run (插件)

1.2 核心价值

  • 实时监控:24/7实时监控生产过程质量状态
  • 预防导向:通过统计分析提前发现质量隐患
  • 数据驱动:基于数据的科学决策支持
  • 持续改进:支持PDCA质量管理循环
  • 合规管理:满足ISO 9001、TS16949等质量体系要求

1.3 适用场景

  • 制造业生产过程质量控制
  • 产品关键特性监控
  • 供应商质量管理
  • 工艺参数优化
  • 质量改进项目支持

2. 快速入门

2.1 基本导航

  • 质量数据总览:整体质量状况概览
  • 参数SPC分析:详细的统计过程控制分析
  • 参数实时CPK:实时过程能力监控

3. 功能模块详解

3.1 质量数据总览

3.1.0 质量参数设置

效果图-质量参数设置

🔧 参数配置管理

主要配置项

  • 产品型号:选择需要配置参数的产品
  • 配方版本:选择对应的配方版本
  • 参数列表配置
    • 参数:如PG1_DINT5、PG1_DINT6、PG2_DINT1等测量参数
    • 所属工序:如GX1_卷材自动开卷、GX2_板材清洗去油等
    • 目标值:参数的目标值设置
    • 规格下限:规格要求的下限值
    • 规格上限:规格要求的上限值
    • 控制图类型:I-MR、Xbar-S、Xbar-R等控制图类型选择
    • 子组大小:统计分析的样本子组数量

操作功能

  • 添加:新增参数配置
  • 删除:删除已选参数配置

效果图-质量数据总览

3.1.1 功能描述

质量数据总览提供企业质量管理的"驾驶舱"视图,通过关键质量指标(KQI)展示整体质量状况,帮助管理者快速了解生产质量水平。

3.1.2 主要功能特性

📊 质量统计表格

  • 工序质量汇总:按工序统计加工数量、超出规格限数量、超出控制限数量
  • 质量比率计算:自动计算超出规格限比率、超出控制限比率
  • 分层显示:按工序层级展示,支持参数级别的详细查看
  • 操作功能:每行提供"详情"链接,可跳转到具体参数的SPC分析界面

3.1.3 操作步骤

  1. 设置查询条件

    产品型号:选择需要分析的产品型号
    配方版本:选择对应的配方版本
    时间范围:选择起始日期和结束日期
    物料码:输入物料编码进行筛选
    工序号:选择关注的工序编号
    超出规格限阈值%:设置规格限异常阈值
    超出控制限阈值%:设置控制限异常阈值
  2. 查看质量概况

    • 观察各工序的加工数量和质量状况
    • 重点关注超规格限比率 > 0.5% 的工序
    • 监控超控制限比率 > 1% 的异常工序
  3. 深入分析

    • 点击"详情"按钮进入具体工序的SPC分析
    • 使用导出功能生成质量报表

3.2 参数SPC分析

参数SPC分析是系统的核心功能模块,提供专业的统计过程控制分析工具。

3.2.1 控制图分析

SPC控制图分析

🎯 I-MR控制图详解

控制图是SPC的核心工具,用于监控过程的稳定性:

上部控制图 (Individual Chart - I图)

  • 用途:监控个别测量值的变化
  • 控制限计算
    • 中心线 (X̄) = 所有测量值的平均值
    • 上控制限 (UCL) = X̄ + 2.66 × MR̄
    • 下控制限 (LCL) = X̄ - 2.66 × MR̄
  • 判读要点
    • 数据点在控制限内:过程受控
    • 数据点超出控制限:过程失控,需要调查原因

下部控制图 (Moving Range Chart - MR图)

  • 用途:监控相邻测量值间的变异性
  • 控制限计算
    • 中心线 = MR̄(移动极差的平均值)
    • 上控制限 = 3.267 × MR̄
    • 下控制限 = 0(通常为0)
  • 判读意义:反映过程的短期变异

🔧 控制图操作功能

  1. 控制图切换

    • 控制图/能力分析选项卡切换
    • I-MR控制图显示(上部Individual图,下部Moving Range图)
  2. 判异规则设置

效果图-判异规则设置

通过"判异设置"按钮可配置Western Electric判异规则:

规则编号判异条件N值M值应用场景
R1N个点落在控制限以外1-过程失控检测
R2连续N个点落在中心线同一侧9-过程偏移检测
R3连续N个点呈递增或递减6-趋势变化检测
R4连续N个点中相邻点交替上下14-系统性变化
R5N个点中有M个点在2σ外同侧32过程不稳定
R6N个点中有M个点在1σ外同侧54变异增大检测
R7连续N个点落在中心线两侧1σ内15-变异异常减小
R8N个点中无一个在中心线附近1σ内8-分层现象检测
  1. 参数设置

    • 控制限系数调整和显示参数配置
    • 右侧显示控制限数值(UCL、X̄、LCL等)
  2. 交互操作

    • 异常点用红色标记显示(基于判异规则自动识别)
    • 鼠标悬停显示数据详情
    • 支持导出数据和生成报告功能

3.2.2 过程能力分析

过程能力分析

📊 能力分析组件

过程能力分析评估生产过程满足规格要求的能力:

直方图分析

  • 数据分布可视化:直观显示测量数据的分布形状
  • 正态性检验:通过叠加的正态曲线评估数据正态性
  • 规格限标识:清晰标示上下规格限位置

能力指数计算与解读

指数类型计算公式应用场景评判标准
Cp(USL-LSL)/(6σ)过程潜在能力≥1.67优秀,≥1.33良好
Cpkmin(CPU,CPL)过程实际能力≥1.67优秀,≥1.33良好
CPU(USL-X̄)/(3σ)上规格能力≥1.0合格
CPL(X̄-LSL)/(3σ)下规格能力≥1.0合格
Pp(USL-LSL)/(6S)过程整体性能≥1.67优秀
Ppkmin(PPU,PPL)过程实际性能≥1.67优秀

统计信息面板

  • 常量统计
    • 规格下限、目标值、规格上限
    • 样本数量、平均值、标准差
  • 过程能力指数
    • 组内能力:Cp、CPL、CPU、Cpk
    • 整体能力:Pp、PPL、PPU、Ppk
    • 其他指数:Ca(偏移系数)、Cpm(修正能力指数)
  • 性能统计
    • PPM统计:预期不合格品率(百万分之一)
    • 实测统计:实际不合格品统计

3.3 参数实时CPK监控

参数实时CPK监控

3.3.1 实时监控面板

📱 CPK卡片显示 每个参数以独立卡片形式展示:

  • 参数标识:PG1_DINT5、PG1_DINT6、PG2_DINT1等参数编码
  • 工序描述:GX1_卷材自动开卷、GX2_板材清洗去油等工序名称
  • 当前值:显示参数的最新测量值(如244、8、216等)
  • CPK值:实时计算的过程能力指数(红色显示低于阈值的CPK值)
  • 状态指示器:红色圆点表示需关注,橙色圆点表示良好
  • 趋势图:每个卡片底部显示CPK变化的小型趋势线图
  • 详情链接:每个卡片右上角提供"详情"链接

3.3.2 CPK等级分类系统

等级CPK范围颜色标识质量水平建议措施
A级CPK ≥ 1.33🟠 橙色良好维持现状,持续监控
B级1.00 ≤ CPK < 1.33🟠 橙色可接受加强监控,寻找改进机会
C级CPK < 1.00🔴 红色需关注分析原因,制定改进计划
D级CPK < 0.67🔴 红色需改进立即停产调查,紧急改进

3.3.3 实时预警机制

自动预警条件

  • CPK值低于设定阈值(通常1.33)
  • CPK值连续下降趋势
  • 单个测量值超出规格限
  • 过程出现失控信号

预警响应流程

  1. 系统自动发出预警信号
  2. 相关人员接收预警通知
  3. 快速响应和问题调查
  4. 采取纠正措施
  5. 效果验证和记录

4. 操作指南

4.1 质量参数设置操作

基于效果图-质量参数设置界面,主要操作包括:

参数配置步骤

  1. 选择产品型号和配方版本
  2. 在参数列表中配置各项数值:
    • 设置目标值、规格下限、规格上限
    • 选择控制图类型(I-MR、Xbar-S、Xbar-R)
    • 设置子组大小
  3. 使用“添加”按钮新增参数
  4. 使用“删除”按钮移除不需要的参数
  5. 点击“确认”保存配置

4.2 判异规则设置操作

基于效果图-判异规则设置界面,主要操作包括:

判异规则配置步骤

  1. 在SPC分析界面点击“判异设置”按钮
  2. 在弹出的设置窗口中:
    • 勾选需要启用的规则(R1-R8)
    • 调整N值和M值参数
  3. 点击“确认”应用设置
  4. 系统将自动在控制图上以红色标记异常点

5. SPC理论基础

5.1 统计过程控制核心概念

5.1.1 变异的两种类型

普通原因变异 (Common Cause Variation)

  • 特征:随机的、不可避免的、可预测的
  • 来源:原材料的自然变异、环境条件变化、设备的正常磨损
  • 管理方式:通过系统性改进减少,如工艺优化、设备升级

特殊原因变异 (Special Cause Variation)

  • 特征:非随机的、可识别的、不可预测的
  • 来源:设备故障、操作错误、原料异常、环境突变
  • 管理方式:及时识别并消除,恢复过程稳定状态

5.1.2 过程状态分类

过程状态变异类型控制图表现管理重点
理想状态仅有普通原因数据点在控制限内随机分布维持现状
失控状态存在特殊原因数据点超出控制限或呈现模式查找并消除特殊原因
过度调整人为引入的变异数据点呈现过度校正模式减少不必要的调整

5.2 控制图统计原理

5.2.1 3σ原理

理论基础

  • 正态分布下,99.73%的数据落在μ±3σ范围内
  • 控制限设置:UCL = μ + 3σ, LCL = μ - 3σ
  • 误判概率:α = 0.27%(假阳性率)

实际应用中的修正

I-MR控制图的控制限系数:
- I图:±2.66 × MR̄(等效于3σ)
- MR图:3.267 × MR̄
- 修正原因:移动极差的分布特性

5.2.2 ARL (Average Run Length)

ARL的意义

  • ARL₀:过程受控时的平均游程长度 ≈ 370
  • ARL₁:过程失控时的平均游程长度,越小越好
  • 目标:在保证低误判率的前提下,快速检出失控状态

5.3 过程能力理论

5.3.1 6σ质量管理

6σ水平对应关系

σ水平CPK值不合格率(PPM)质量等级
2.03.4世界级
1.67233优秀
1.336,210良好
1.066,807一般
0.67308,538较差

5.3.2 能力指数的统计特性

Cpk的置信区间

Cpk的(1-α)置信区间:
下限 = Cpk × √[(n-1)/χ²(α/2,n-1)]
上限 = Cpk × √[(n-1)/χ²(1-α/2,n-1)]

其中:n为样本量,χ²为卡方分布

6. 最佳实践与注意事项

6.1 数据质量管理

6.1.1 测量系统分析(MSA)

Gage R&R 要求

  • 优秀:%R&R < 10%
  • 可接受:10% ≤ %R&R < 30%
  • 不可接受:%R&R ≥ 30%

定期校准计划

测量设备校准频次:
- 关键测量设备:每月校准
- 一般测量设备:每季度校准
- 参考标准件:每年送外部校准

6.1.2 数据采集规范

采样策略

  • 子组大小:通常n=1(连续生产)或n=4-5(批量生产)
  • 采样频率:根据生产节拍确定,建议每小时或每批次
  • 采样位置:代表性位置,避免边界效应

数据记录要求

  • 实时记录,避免事后补录
  • 记录采样时间、操作员、设备状态等关键信息
  • 异常数据必须注明原因和处理措施

7. 附录

7.1 术语表

术语英文定义应用
统计过程控制SPC运用统计方法监控和控制过程的技术质量管理核心工具
控制图Control Chart用于监控过程稳定性的统计图表过程监控主要工具
过程能力Process Capability过程满足规格要求的能力过程评价重要指标
控制限Control Limits基于统计原理确定的过程变异界限判断过程状态标准
规格限Specification Limits产品或服务必须满足的技术要求质量标准定义
移动极差Moving Range相邻测量值之间的绝对差值I-MR控制图组成部分

7.2 常用公式

7.2.1 控制限计算

I-MR控制图:
- I图中心线:X̄ = (X₁ + X₂ + ... + Xₙ) / n
- I图控制限:UCL_I = X̄ + 2.66×MR̄, LCL_I = X̄ - 2.66×MR̄
- MR图中心线:MR̄ = (MR₁ + MR₂ + ... + MRₙ₋₁) / (n-1)
- MR图控制限:UCL_MR = 3.267×MR̄, LCL_MR = 0

X̄-R控制图:
- X̄图控制限:UCL_X̄ = X̄ + A₂×R̄, LCL_X̄ = X̄ - A₂×R̄
- R图控制限:UCL_R = D₄×R̄, LCL_R = D₃×R̄

7.2.2 过程能力指数

基本能力指数:
- Cp = (USL - LSL) / (6σ̂)
- Cpk = min[(USL - X̄)/(3σ̂), (X̄ - LSL)/(3σ̂)]

性能指数:
- Pp = (USL - LSL) / (6S)
- Ppk = min[(USL - X̄)/(3S), (X̄ - LSL)/(3S)]

其他指数:
- Ca = |X̄ - T| / [(USL - LSL)/2] (偏移系数)
- Cpm = (USL - LSL) / [6√(σ² + (X̄ - T)²)] (修正能力指数)

7.3 参考资料

标准文件

  • GB/T 4091-2001 《常规控制图》
  • GB/T 17989.1-2020 《控制图 第1部分:通用指南》
  • ISO 7870-2:2013 《Control charts — Part 2: Shewhart control charts》